XXXVII Молодежный семинар "Введение в атомно-силовую микроскопию"

Одним из наиболее распространённых методов исследования топографии поверхности является атомно-силовая микроскопия (АСМ). Данный метод позволяет достигать разрешения в ангстремном диапазоне по оси Z, а также характеризовать поверхность по ряду электрофизических параметров.

Настоящая лекция представляет собой введение в атомно-силовую микроскопию, в рамках которого будут кратко освещены основные методы сканирования, принципы силовой спектрометрии, вопросы пробоподготовки биологических образцов (фиксация, иммобилизация, работа в жидкой среде), мультипараметрическая визуализация (картирование электрофизических, механических и адгезионных свойств поверхности), а также артефакты и ограничения АСМ при работе с биологическими системами (влияние зонда, температуры, ионной силы и т.д.). Кроме того, будут приведены некоторые примеры исследований с использованием АСМ на базе НИИ СБМ.